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Objectif-piezo-Mipos100.pdf
Objectif-piezo-Mipos16.pdf
Objectif-piezo-Mipos20.pdf
Objectif-piezo-Mipos250.pdf
Objectif-piezo-Mipos500.pdf
Objectif-piezo-Mipos600SG.pdf
Objectif-piezo-MiposLFA.pdf
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Objectif-piezo-Prior.pdf
Platine-Z-piezo-Prior.pdf
Platine-Z-piezo.pdf
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Fabricant
Scanneur piezo pour nanopositionnement en Z
Nano-positionneurs d'objectifs et de supports échantillons.
Nano-positionneur d'objectifs piezo-électrique
- Courses de 100 à 600µm
- Systèmes boucle fermée digitale et boucle ouverte analogique
- Versions avec capteurs de positionnement capacitif pour une meilleure résolution et une meilleure stabilité
- Résolution et répétabilité nanométrique et sub-nanométriques
- Modèle avec temps de stabilisation <10ms (charge de 150g, stabilisation 5% pas de 0,5µm)
- Haute fréquence de résonance
- Pour microscopes droits et inversés
- Conception compacte, Facile à fixer sur les microscopes, Excellente durée de vie
Nanopositionneur d'échantillon en Z
- Courses 370 à 690µm en boucle ouverte, de 300 à 600µm en boucle fermée
- Versions avec capteurs de positionnement capacitifs (CAP) pour une résolution de pointe
- Résolution sub-nanométrique, répétabilité nanométrique
- Modèle facilement combinable avec d’autres systèmes de nano et micro-positionnement (pour ouverture Frame K standard)
- Modèle avec temps de stabilisation <10ms (charge de 200g, stabilisation 5% pas de 0,5µm)
- Charges jusqu’à 500g (charges plus élevées sur demande)
- Convient pour les supports multi-well standards
- Particulièrement adapté à l’imagerie cellulaire, à la fluorescence confocale, aux applications de scan laser, d’imagerie 3D, d’analyse de surface ou encore d’inspection de wafers…
- Site internet du fabricant
- https://www.piezosystem.com